韩国半导体展 爱德万秀5G测试方案

会展信息
分享至
评论

  韩国SEMICON国际半导体展将于下周举办,测试设备大厂爱德万预计展示5G半导体测试方案。韩国SEMICON国际半导体展将在23到25日于首尔开展,爱德万测试将展示多种IC测试及晶圆检测解决方案,因应全球5G通讯市场需求。

  包括可整合开发、除错与量产PCIe Gen 4固态硬盘(SSD)的平台解决方案;符合下一代移动协议的内存测试器;可评估新一代高速LPDDR5及DDR5内存进阶功能的测试机台、高速内存测试解决方案、适合奈米技术应用的量测解决方案,以及用于光罩和晶圆的扫描式电子显微镜(SEM),以及电子束光刻系统等。爱德万也深耕奈米和太赫兹技术发展,近日推出有关光罩制造的多视角量测扫描式电子显微镜,以及突破现有技术限制的3D成像和分析工具。

THE END

数码评测